Неруйнівний контроль структурних дефектів у вихідних та опромінених реакторними нейтронами фосфідо-галієвих світлодіодах
| dc.contributor.author | Конорева, О. В. | |
| dc.contributor.author | Опилат, В. Я. | |
| dc.contributor.author | Пінковська, М. Б. | |
| dc.contributor.author | Попов, В. Ю. | |
| dc.contributor.author | Решетнік, М. С. | |
| dc.contributor.author | Тартачник, В. П. | |
| dc.date.accessioned | 2016-09-16T10:21:38Z | |
| dc.date.available | 2016-09-16T10:21:38Z | |
| dc.date.issued | 2006 | |
| dc.description.abstract | Встановлено, що для червоних світлодіодів характерним є різкий розподіл домішок в межах р-n переходу, у зелених переважно лінійний, У досліджуваних структурах формується два механізми пробою: тунельний та лавинний. Опромінення швидкими нейтронами реактора (Есер = 2 МеВ) спричиняє зростання імовірності тунельного пробою в зелених діодах, лавинного - у червоних. | uk_UA |
| dc.identifier.citation | Неруйнівний контроль структурних дефектів у вихідних та опромінених реакторними нейтронами фосфідо-галієвих світлодіодах / О. В. Конорева, В. Я. Опилат, М. Б. Пінковська [та ін.] // Методи та прилади контролю якості. - 2006. - № 17. - С. 24-27. | uk_UA |
| dc.identifier.uri | http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/1638 | |
| dc.language.iso | uk | uk_UA |
| dc.publisher | ІФНТУНГ | uk_UA |
| dc.title | Неруйнівний контроль структурних дефектів у вихідних та опромінених реакторними нейтронами фосфідо-галієвих світлодіодах | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |