Стаціонарний метод визначення термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів
Loading...
Files
Date
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
ІФНТУНГ
Abstract
Розглянуто фізичні основи нового підходу до вимірювання теплопровідності, який можна віднести
до стаціонарних методів. Детально описано розподіл теплових потоків у вимірювальній комірці,
оцінено похибку даного методу та вказано шляхи її мінімізації.
Рассмотрено физические основы нового подхода к измерению теплопроводности, который можно отнести к стационарным методам. Тщательно описано распределение тепловых потоков в измерительной ячейке, сделано оценку погрешностей этого метода и определены пути ее минимизации.
A physical basis of a new approach to measurement of thermal conductivity was considered. It has been attributed to stationary methods. The heat flows distribution inside the measuring cell was described in detail, an error of this method was estimated and some ways to minimize it were found.
Рассмотрено физические основы нового подхода к измерению теплопроводности, который можно отнести к стационарным методам. Тщательно описано распределение тепловых потоков в измерительной ячейке, сделано оценку погрешностей этого метода и определены пути ее минимизации.
A physical basis of a new approach to measurement of thermal conductivity was considered. It has been attributed to stationary methods. The heat flows distribution inside the measuring cell was described in detail, an error of this method was estimated and some ways to minimize it were found.
Description
Keywords
напівпровідниковий матеріал, теплопровідність, тепловий потік, вимірювальна комірка, питома електропровідність, теплоелектрорушійна сила, теплоелектричні параметри, полупроводниковый материал, теплопроводность, тепловой поток, измерительная ячейка, удельная электропроводность, теплоэлектродвижущая сила, теплоэлектрические параметры, semiconductor materials, thermal conductivity, heat flow, measuring Pomirko, specific conductivity, thermal electromotive force
Citation
Стаціонарний метод визначення термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів / Д. М. Фреїк, М. О. Галущак, А. І. Терлецький [та ін.] // Методи та прилади контролю якості. - 2010. - № 25. - С. 92-96.
