Неруйнівний контроль деградаційно-релаксаційних процесів у фосфідо-галієвих світлодіодах
| dc.contributor.author | Опилат, В. Я. | |
| dc.contributor.author | Тартачник, В. П. | |
| dc.contributor.author | Худецький, М. В. | |
| dc.contributor.author | Макота, Ю. А. | |
| dc.date.accessioned | 2016-09-16T10:24:38Z | |
| dc.date.available | 2016-09-16T10:24:38Z | |
| dc.date.issued | 2006 | |
| dc.description.abstract | Описано деградаційно - релаксаційні процеси у світлодіодах GаР, зумовлені ультразвуковою обробкою. Виявлено ефект оборотності деградаційного процесу. В основі досліджуваного явища лежить формування нестабільних дислокаційних сіток. Метод ультразвукової обробки може бути застосований з метою виявлення мікродефектів структури у напівпровідникових приладах. | uk_UA |
| dc.identifier.citation | Неруйнівний контроль деградаційно-релаксаційних процесів у фосфідо-галієвих світлодіодах / В. Я. Опилат, В. П. Тартачник, М. В. Худецький, Ю. А. Макота // Методи та прилади контролю якості. - 2006. - № 17. - С. 28-30. | uk_UA |
| dc.identifier.uri | http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/1640 | |
| dc.language.iso | uk | uk_UA |
| dc.publisher | ІФНТУНГ | uk_UA |
| dc.title | Неруйнівний контроль деградаційно-релаксаційних процесів у фосфідо-галієвих світлодіодах | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |