Комірка для вимірювання термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів

Abstract

Представлені схема і конструкція комірки для вимірювання стаціонарним методом коефіцієнтів теплопровідності, термо–Е.Р.С та питомої електропровідності термоелектричних матеріалів в інтервалі температур (300–750) К. Особлива увага звернена на вибір нагрівників, термопар, підведених і вимірювальних проводів (елементів).
Представлены схема и конструкция ячейки для измерения стационарным методом коэффициентов теплопроводности, термо–Э.Д.С и удельной электропроводности термоэлектрических материалов в интервале температур (300-750) К. Особое внимание обращено на выбор нагревателей, термопар, подведенных и измерительных проводов (элементов).
The scheme and the construction of cells for stationary measurement method of thermal conductivity coefficients, thermo–E.M.F. and conductivity of thermoelectric materials in the temperature range (300- 750) K. Special attention is given to the selection of heaters, thermocouples, summarized and measuring wires (elements).

Description

Citation

Комірка для вимірювання термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів / Д. М. Фреїк, М. О. Галущак, А. І. Терлецький [та ін.] // Методи та прилади контролю якості. - 2011. - № 26. - С. 94-96.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By